微捷码QCP提取器通过了TSMC 28nm质量检验

    美国加州圣荷塞  2011年7月13日– 芯片设计解决方案供应商微捷码（Magma®）设计自动化有限公司（纳斯达克代码：LAVA）日前宣布，QCP™提取器已被台积电（TSMC）纳入其季度28纳米集成电路（IC）EDA质量检验报告中。这次质量检验让设计师们对采用QCP解决台积电28纳米工艺IC日益提高的复杂性问题更有信心。

    28纳米节点的新器件结构以及所使用金属层数量的日益增加正引入了许多可能影响IC性能的附加寄生效应。要创建可精确预测电路性能的仿真模型，设计师需要精确的提取功能。QCP可满足台积电28纳米通孔刻蚀、多维刻蚀表、触点偏压和额外通孔规则等需求，确保了必需的支持。除了满足28纳米设计复杂需求以外，QCP还提供了适用40纳米及更大尺寸工艺技术IC的先进提取功能。

    “与战略合作伙伴的密切合作仍是达成台积电提供IC行业最先进设计生态系统这一目标的关键，”台积电（TSMC）设计基础设施市场部总监Suk Lee表示。“对微捷码下一代提取工具——QCP的质量检验是确保双方客户28纳米硅片设计成功的另一个里程碑。”

    “随着QCP经验证可提供较传统工具更快的多角提取，QCP的采用率正节节攀升，”微捷码设计实施业务部总经理Premal Buch表示。“台积电对QCP的质量检验让我们的客户对其快速精确28纳米设计寄生提取的能力更具信心。”
 
QCP：解决28纳米设计的提取问题

    QCP经架构，可以最高精度提供最快提取。它不仅提供了近线性多处理器设备可扩展性，使得设计团队可缩短运行时间并加速时序收敛；而且只需在原有运行时间上增加最少时间即可实现额外角点的提取，从而还解决了28纳米设计出现的多角工艺、电压和温度（PVT）问题。