在开发单片机的系统时如何衡量系统的稳定性-电子工程世界

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在开发单片机的系统时,具体有那些是衡量系统的稳定性的标准？
答：从工业的角度来看,衡量系统稳定性的标准有很多,也针对不同的产品标准不同。下面我们大概介绍单片机系统最常用的标准。

电试验(ESD)
参考标准： IEC 61000-4-2
本试验目的为测试试件承受直接来自操作者及相对对象所产生之静电放电效应的程度。

空间辐射耐受试验(RS)
参考标准：IEC 61000-4-3
本试验为验证试件对射频产生器透过空间散射之噪声耐受程度。
测试频率：80 MHz~1000 MHz

快速脉冲抗扰测试(EFT/B)
参考标准：IEC 61000-4-4
本试验目的为验证试件之电源线,信号线(控制线)遭受重复出现之快速瞬时丛讯时之耐受程度。

雷击试验(Surge)
参考标准： IEC 61000-4-5
本试验为针对试件在操作状态下,承受对于开关或雷击瞬时之过电压/电流产生突波之耐受程度。

传导抗扰耐受性(CS)
参考标准：IEC 61000-4-6
本试验为验证试件对射频产生器透过电源线传导之噪声耐受程度。
测试频率范围：150 kHz~80 MHz

Impulse
脉冲经由耦合注入电源线或控制线所作的杂抗扰性试验。

关键字：单片机系统稳定性引用地址：在开发单片机的系统时如何衡量系统的稳定性

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