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推荐阅读最新更新时间:2023-10-12 20:58
基于51单片机的三角波信号发生器设计
一、任务要求: 设计内容 选择51单片机,晶振采用12MHz。 设计一个能产生50HZ至100HZ的三角波信号。通过0832/A芯片完成数模转换。 频率值由LED数码管键盘输入。 将频率由LED数码管显示(4位) 设计要求 按照任务书的要求完成系统分析及方案设计。 完成硬件原理图的设计,并设计相关元器件。 完成控制软件流程图的设计,编写相应的单片机控制程序。 撰写设计报告。 二、仿真过程展示 程序烧录仿真界面: K1第一次按下界面 按3次K1后界面 K2、K3可对波形频率进行调整;K4、K5可对占空比进行调整。 频率的值是可以通过这里改的
[单片机]
51单片机使用DAC0832编程输出方波,锯齿波,三角波,正弦波
#include reg51.h #include math.h #define uchar unsigned char #define uint unsigned int #define PI 3.1415925 float alph; void delayms(uint x) { uchar i; while(x--); { for(i=0;i 123;i++); } } main() { uchar i; while(1) { for(alph=0;alph 2*PI;alph+=0.1) { P2=1
[单片机]
单片机控制DAC0832输出正弦波三角波汇编程序
org 0000h LJMP MAIN ORG 0003H LJMP L0 MAIN:MOV R2,#0aH ;调幅倍数 MOV R4,#01H ;增减选择 MOV R5,#01H pp: SETB EA SETB EX0 ;延时计数个数 MOV A,#0FFH ;读取波形状态 MOV P1,A MOV A,P1 JNB ACC.0,ZXB ;P1.0=0 则选择正弦波 JNB ACC.1,SJB ;P1.1=0 则选择三角波 JNB ACC.2,FB ;P1.2=0 则选择方 波 A
[单片机]
50~150MHZ高频VCO电路
电路 的功能
本电路是50~150MHZ高频电压 控制 振荡器,可在通信机、信号发生器等高频电路中与PLL电路配合使用。
若在控制电压端加4~5V的直流置偏,使话音等信号在这里加权,则可作为FM调制器使用。
电路工作原理
本电路是高频的科尔皮兹振荡电路,线圈L1有两个抽头,制作简便,通过确定振荡频率并且经过试验来决定L1值。用变容二极管直接改变谐振频率,使VCO工作,振荡信号可从TR1射极输出,若从兼作缓冲器的输出放大器TR2输出L2起阻抗变换变压器的作用,L2由φ0.4的漆包线在环环形铁芯上双线10圈而成。
[模拟电子]
c51: 用定时器T0 ,P0输出1s 方波,中断
/*
T0工作方式2,自动重载8位定时器。
设 频率:f, 定时器初值 val ,定时时间 T。
关系式 T=(2^8-val)*12/f
*/
//任务:f=12MHZ ,T0工作方式2,定时250us,中断2000次,P0口翻转,使P0口输出1s 的方波。
#include reg52.h
#define uint unsigned int
//定义全局变量
uint counter;
init_T0()
{
TMOD=0x02; //定时器工作方式
TL0=0x06;
[单片机]
一种基本VCO的电-光转换发射电路的设计
摘要: 介绍了基于电压控制振荡器(VCO)的电-光转换电路的基本原理,设计了一种基于VCO的光-光转换发射电路,并给出了其响应特性。实验结果表明这种电-光转换发射电路具有良好的实用性。
关键词: 电压控制振荡器(VCO)
电-光转换 发射电路
随着测量技术的发展,对测量系统提出了越来越高的要求。在高电压、强电场的测量中,信号输入端和输出端的电位悬殊较大,因此通常使用电-光转换的方法使信号的输入端和输出端实现电绝缘 。电-光转换组成的测量系统具有绝缘性高、抗干扰能力强、线性度高等诸多优点 ,因此可以消除输入回路中的干扰信号和杂感信号对输出回路信号的干扰,实现输入信号-输出信号之间的无失真传输。
[电源管理]
用于ADC片上测试的模拟三角波信号发生器
在无线通信、图像处理等各个芯片应用领域,越来越多的系统芯片(SoC)选择将各个功能不同的模拟电路模块和数字电路模块集成在同一芯片中,以便在整个系统的性能达到最优的同时使成本降到最低。但这却给芯片的测试带来了意想不到的困难,也使得测试成本大为增加。ADC作为连接数字系统和模拟系统的桥梁,其测试显得格外重要。随着ADC性能的不断提高,芯片外部环境也已经成为ADC测试的主要障碍。
为了解决上述问题,同时更准确地测试ADC作为IP核集成到SoC中工作时的真实性能,各种ADC的内建自测试(Built-In-SelfTest)方法应运而生,而如何精确而高效地为ADC内建自测试提供测试激励是一个非常关键的问题。本文提出一种可用于ADC
[测试测量]