USB3.0的物理层测试解决方案

发布者:温馨的家庭最新更新时间:2011-06-13 关键字:USB3.0  物理层测试 手机看文章 扫描二维码
随时随地手机看文章
  USB简介   
 
  USB(Universal Serial Bus)即通用串行总线,用于把键盘、鼠标、打印机、扫描仪、数码相机、MP3、U盘等外围设备连接到计算机,它使计算机与周边设备的接口标准化,从2000年以后,支持USB2.0版本的计算机和设备已被广泛使用,USB2.0包括了三种速率:高速480Mbps、全速12Mbps、低速1.5Mbps。目前除了键盘和鼠标为低速设备外,大多数设备都是速率达480M的高速设备。

尽管USB2.0的速度已经相当快,对于目前高清视频和动辄GByte的数据传输还是有些慢,在2008年11月,HP、Intel、微软、NEC、ST-NXP、TI联合起来正式发布了USB3.0的V1.0规范。USB3.0又称为Super Speed USB,比特率高达5Gbps,相比目前USB2.0的480Mbps的速率,提高了10倍以上,引用Intel专家Jeff Ravencraft的话:“以25GB的文件传输为例,USB2.0需要13.9分钟,而3.0只需70秒左右。”25GB,正好是单面单层蓝光光盘的容量。USB3.0预计将在2010年逐渐在计算机和消费电子产品上使用。

力科于2009年4月发布了USB3.0的物理层测试解决方案,能提供端到端的互操作测试和兼容性测试,包括了Transmitter测试、Receiver测试、TDR测试。此外,力科还提供了业界领先的USB3.0协议层测试方案。

USB3.0的Transmitter测试   

对于USB3.0的Transmitter测试,为了测量到5次谐波,需要带宽12.5GHz以上的示波器,力科的SDA813Zi带宽13GHz,采样率40GSamples/s(最高可达80GS/s),配合USB3.0一致性测试软件QualiPHY、眼图医生软件和测试夹具,可以快速完成USB3.0的发送端Compliance测试和调试分析。

QualiPHY软件可以使USB3.0发送端的各项测试自动化,并生成多种格式的测试报告。在QualiPHY的USB3.0测试软件中,包括差分电压摆幅测试、去加重比值测试(De-emphasis ratio test)、眼图和抖动测试、扩频时钟测试(Spread Spectrum Test),图1所示为报告中的整体测试项目概览,列出了测试项目对应的Spec的条目,测试项目的名称,当前测试结果,测试判定条件等。

在发送端测试中,通常需要消除USB3.0的测试夹具引入的损耗和反射。如下图1所示为USB3.0发送端测试示意图:夹具插到待测试芯片的USB口,夹具上通过PCB的传输线USB口引出到4个SMA连接头(USB3的TX和RX各两个),然后用SMA接口的同轴电缆连接到示波器。由于夹具上的连接器、过孔、传输线等会使信号发生衰减、色散或者反射,导致示波器测量到的信号有所恶化。力科的眼图医生软件包括了夹具去嵌功能,只需输入夹具的S参数模型文件(可由VNA或者TDR测量得到),即可计算出没有夹具时测量到的信号的波形与眼图。

如图2左下部分所示为示波器测量的USB3.0信号去嵌后测量到的眼图,图1右下部分是示波器直接测量到的眼图(即未作夹具去嵌的眼图),相比后者,前者的上升下降沿更陡峭,眼轮廓清晰,眼张得更开。从这个比较图中可以看到力科的去嵌技术可以消除测试夹具的负面作用。使用夹具去嵌功能后,可以更加准确的测量电压摆幅和去加重的比值。

图1: 力科一致性测试软件QualiPHY产生的报告一部分   

差分电压摆幅测试   

差分电压摆幅测试的目的是验证信号峰峰值是否在0.8-1.2V之间。测试中Device Under Test(简称DUT)需要发送出测试码型CP8(CP是Compliance Pattern的简写,在USB3的物理层测试中,各项测试需要不同的测试码型,USB3.0规范中定义了各种测试码流,USB3.0的芯片厂商提供了软件接口来配置其发送数据的码型),CP8由50-250个连续的1和50-250个连续的0重复交替组成,而且消除了去加重,其波形相当于50-250分频的时钟。在这些测试中,把USB3.0测试夹具去嵌后测量结果更精确。

去加重比值测试   

为了把5Gbps速率的数据传送较远的距离,USB3.0的发送端使用了去加重技术,这项测试可以测量DUT的去加重程度是否满足规范要求(要求在-3dB到-4dB之间)。测试时DUT发送出CP7码流,CP7码型由50-250个连续的1和50-250个连续的0重复交替组成,而且是添加了去加重的信号波形。图3为某USB3.0芯片的去加重测量结果,该芯片采用了-3.47dB的去加重。

眼图与抖动测试   

在USB3.0的TX的眼图和抖动测试中,测量的是待测试信号经过参考测试信道后TP1点的眼图和抖动。如下图4中的Reference test channel即为参考测试信道,在规范中定义了long channel、short channel和3米电缆三种参考测试信道。如果使用long channel或者较长电缆,信号到达接收端时衰减比较大,眼图已经闭合,USB3.0芯片接收端使用了CTLE均衡器对信号进行均衡后(CTLE均衡器介绍见本文最后一部分),信号眼图的质量将大大改善,所以要求测试仪器分析出CTLE均衡器处理后信号的眼图和抖动。

图4:USB3.0的TX的眼图测试点(来自USB3.0规范)   

如下图5所示,左边的眼图是靠近TX近端测量到的眼图;中间的眼图是通过兼容性信道(参考测试信道)后测量的眼图,可见眼图的张开程度较小,抖动较大;右边的眼图是仿真CTLE均衡后的眼图,可见眼高和抖动都得到改善。

图5:USB3.0的Transmitter测试在近端、远端和均衡后的眼图对比   

眼图和抖动测试中信号源需要发出特别的测试码型,对于眼图测试,需要CP0码型(扰码的D0.0),对于抖动测试,需要CP0码流或者CP1码流(D10.2),前者用于确定性抖动Dj的测量,后者用于随机抖动Rj的测量。眼高必须从连续的1百万个比特叠加的眼图中测量,力科SDA813Zi示波器完成1百万比特的眼图仅需2秒,速度是同类示波器的10-50倍以上。抖动为10e-12误码率时抖动的峰峰值(即总体抖动Tj)。

扩频时钟测试(Spread Spectrum Clock Test)   

扩频时钟经常使用在计算机主板的电路上,用于减小电磁辐射。在USB3.0中,需要测试扩频时钟的调制频率和频偏,测试时DUT发送出CP1码型的数据流(CP1码型为D10.2,即0101连续跳变的码型,相当于频率2.5GHz的时钟),规范要求扩频时钟的调制频率为30-33KHz之间,频偏在0ppm到-5000ppm之间。如下图6为力科示波器测量扩频时钟的结果。

USB3.0使用的CTLE均衡器   

Continuous Time Linear Equalization均衡器(简称CTLE)即连续时间线性均衡器,是一种常见的线性均衡器,在USB3.0芯片的接收端中使用了CTLE均衡器。USB3.0的速度高达5Gbps,当USB电缆较长时,RX端眼图很可能已闭合,这时分析眼图与抖动是没有意义的。使用力科眼图医生的CTLE均衡仿真后,对均衡后信号测量眼图与抖动指标,可以精确的验证其性能。结合力科的信道仿真功能,直接测量USB3.0的TX,可以迅速估不同的信道是否需要均衡或者均衡后信号的性能指标如何。

USB的官方组织规定了USB3.0使用的CTLE均衡器的参数,如下图7左上部分为均衡器的频响,右上方的表格是均衡器的参数,下方是力科示波器中集成了USB3.0的均衡器参数,可方便调用。

结语:本文简要介绍了力科测试USB3.0的发送端的解决方案。力科的眼图医生软件可以快速验证经过USB3.0电缆后远端的信号质量,以及CTLE均衡器均衡后的眼图和抖动,帮助USB3.0开发人员快速测试和验证USB3.0芯片和电路设计。力科第四代示波器SDA813Zi强大的眼图和抖动分析能力,可以快速的调试和分析USB3.0设计中的碰到的各种问题。

关键字:USB3.0  物理层测试 引用地址:USB3.0的物理层测试解决方案

上一篇:基于CAN总线的电力集中抄表系统
下一篇:基于VxW0rks操作系统的USB 2.0驱动分析

推荐阅读最新更新时间:2024-05-02 21:26

Symwave宣布推出首款USB 3.0 RAID存储控制器
超高速(SuperSpeed) USB芯片系统方案领导供货商Symwave(芯微科技)宣布,SW6318现在已经可以立即供货,SW6318为单芯片USB 3.0到双SATA存储控制器。SW6318是业界首创的高性能解决方案,传输速度最高可达400 MB/秒。此单芯片的性能比现有以USB 2.0技术为基础的RAID存储方案快了十倍以上,并充分发挥了下一代USB 3.0技术所能提供的速度与系统级提升。 In-Stat首席分析师Brian O’Rourke表示,“Symwave一直是USB 3.0存储方案的先驱者,该公司的SW6318可使其继续保持领先地位。将两个2.5或3.5英寸硬盘与USB 3.0结合在一起,可实现拥有
[嵌入式]
VIA控制器获认证 廉价USB3.0闪存普及在即
威盛公司今天宣布,其VIA Labs VL750 USB 3.0 NAND闪存控制器已经获得了USB标准组织:USB应用厂商论坛(USB-IF)的官方认证,成为全球首款获此认证的原生USB 3.0闪盘控制器芯片产品。 VL750于今年9月发布,兼容传统的Bulk-Only Transport(BOT)USB大容量传输协议,以及更高性能的新版USB Attached SCSI Protocol(UASP)协议。该芯片可搭配30nm或20nm级NAND闪存颗粒,最高可控制32颗闪存,负载均衡技术可延长闪存寿命,支持ECC错误校验。支持四路读写,交叉读写功能,最高传输速度100MB/s以上。向下兼容USB 2.0和1.1规范,
[嵌入式]
VIA控制器获认证 廉价<font color='red'>USB3.0</font>闪存普及在即
泰克推出业内首款LPDDR4物理层测试解决方案
扩展泰克综合DDR测试解决方案的支持范围,以支持用于移动设备的新型高速低功耗内存接口。 中国 北京,2014年9月29日 – 全球示波器市场的领导厂商---泰克公司日前宣布,推出业内首款针对下一代移动内存技术---JEDEC LPDDR4的完整物理层及一致性测试解决方案。将于2015年开始采用的LPDDR4技术基于目前的LPDDR3技术,其数据速率将增加到4.26 Gb/s,并使用超低电压核心使功耗降低约35%,以提高智能手机、可穿戴设备和平板电脑等移动设备的性能。 由于仅有1.1V的低输入/输出电压、高数据速率以及使得测试非常不方便的紧凑机械设计,LPDDR4带来了新的测试和测量挑战。另外,参考电压 (
[测试测量]
泰克推出业内首款LPDDR4<font color='red'>物理层测试</font>解决方案
TE Connectivity USB 3.0 连接器
作为USB设计学会(USB-IF)的资深会员,TE Connectivity推出全新的USB 3.0连接器及全面产品解决方案。该系列产品包括标准A型/B型接口和插口、增强供电B型接口和插口、迷你B型和AB型接口和插口及线缆组件等。TE Connectivity拥有优秀的线路设计团队,可为您提供优质的定制服务,以满足您不同的需求。同时,作为全球领先的无源器件制造商之一,TE Connectivity拥有先进的自动化制线机。高效的生产线管理及先进的工艺流程,使我们的产品更加稳定、更加可靠。
[模拟电子]
能比USB3.0快多少?USB3.1速度对比实测
有关USB 3.1的话题我们已经讨论得够多了,而相关的产品近日也在陆续进入市场,其中尤其以为传统主机端设备提供扩展接口的主板最为活跃。虽然Intel到下一代 100系芯片组中仍不会提供原生的USB 3.1支持,但就像以前USB 3.0一样,在尚未有原生方案之前,都是以整合第三方的主控芯片提供新接口。   新接口下传输速度究竟能跑多快?下面就让我们来一探究竟。   USB 3.1有哪些提高?      现在让我们首先来回顾下USB 3.1在功能上主要有了哪些方面的改进。USB 3.1标准于2013年7月发布,最大理论带宽相比3.0时翻了一番,达到10Gb/s(Super Speed+)。USB 3.1编码方式从此前USB
[嵌入式]
USB3.0概述
  引 言   USB的英文全称为Universal Serial Bus,中文含义是通用串行总线,它是一种快速的,双向的,同步传输的廉价的并可以进行热拔插的串行接口。USB接口使用方便,它可以连接多个不同的设备,而过去的串口和并口只能接一个设备。速度快是USB技术的突出特点之一。全速USB接口的最高传输率可达12Mb/s,比串口快了整整100倍,而执行USB2.0标准的高速USB接口速率更是达到了480Mb/s.这使得高分辨率、真彩色的大容量图象的实时传送成为可能。USB接口支持多个不同设备的串列连接,一个USB接口理论上可以连接127个USB设备。连接方式也十分灵活,既可以使用串行连接,也可以使用集线器(Hub)把多个设备连接在
[嵌入式]
USB3.0中五分频电路设计
  0 引言   USB 3. 0 是通用串行总线( Universal Serial Bus)的最新规范, 该规范由英特尔等大公司发起, 其最高传输速度可达5 Gb/ s,并且兼容USB 2. 0 及以下接口标准。物理层的并串/ 串并转换电路是U SB 3. 0 的重要组成部分, 在发送端将经过8 b/ 10 b 编码的10 位并行数据转换成串行数据并传输到驱动电路, 在接收端将经过CDR( Clock and Data Recovery) 恢复出来的串行数据转换成10 位并行数据。在并串/ 串并转换过程中,同时存在着时钟频率的转换, 若串行数据采用时钟上下沿双沿输出,则串行数据传输频率降低一半, 并行传输时钟为串行传输时钟
[嵌入式]
基于USB3.0电路可靠性的PTC/ESD方案
USB 3.0传输速率高达5Gbit/s,且电源汇流排也有高达900毫安培的最大输出电流,因此电路电气瞬变和过流故障的预防极为重要,设计人员必须慎选适当的热敏电阻(PTC)和静电放电(ESD)方案,才能确保讯号完整性,并降低系统故障风险。 通用序列汇流排(USB)规范自1996年发布以来,截至2012年为止已累积超过三十五亿个电脑周边设备的USB连接装置出货量。2010年,当第一批支援USB 3.0规格的装置上市,销售量就达到约一百万个,2012年更一举增长至五百万个左右,足见其市场成长相当迅速。 相较于USB 2.0,USB 3.0拥有四个额外数据通道,传输速率高达5Gbit/s(图1),而且电源汇流排也有高达900毫安培(mA
[电源管理]
基于<font color='red'>USB3.0</font>电路可靠性的PTC/ESD方案
小广播
最新嵌入式文章
何立民专栏 单片机及嵌入式宝典

北京航空航天大学教授,20余年来致力于单片机与嵌入式系统推广工作。

换一换 更多 相关热搜器件
电子工程世界版权所有 京B2-20211791 京ICP备10001474号-1 电信业务审批[2006]字第258号函 京公网安备 11010802033920号 Copyright © 2005-2024 EEWORLD.com.cn, Inc. All rights reserved