HIOKI IN-CIRCUIT HiTESTER 1220 测试仪

    加利福尼亚托兰斯— 2011年3月—先进机械、材料和工程服务的领先供应商Seika Machinery公司现推出HIOKI IN-CIRCUIT HiTESTER 1220测试仪，测试仪配置全新设计的测量电子以及可实现更高测试速度的备选平行测试功能。

    IN-CIRCUIT HiTESTER 1220可迅速连接到PC网络，使数据管理简单安全。HIOKI测试仪系列范围之外的数据转换亦可在此先进系统进行。要将系统配置为一台功能测试仪，用户可以通过GPIB控制器轻松安装一个与必要测量装置相连的专用功能测试板。

    测试仪1220即使通过少量测试点，亦可利用具有出色检测能力的宏测试功能，对电路板进行评估。此外，该高速多道测试仪器能够确保系统的整体准确性。

    该按压式测试仪使用适合PCB规模化生产的相应固定装置。单个系统嵌入四个功能：实装板测试仪、适合阻抗测量的微型测试仪、有源测试仪以及高速数据采集装置。