前言
关键字：STM32F2 高低温死机
引用地址：一个与STM32F2高低温死机相关的话题
本篇讨论了一个STM32F2在用户产品进行测试死机的例子。
问题：
某用户使用STM32F2进行产品设计。当进行高低温试验时，发现高温时产品死机。
分析：
首先，芯片的工作范围是在温度85摄氏度以下。经了解，客户实测的温箱温度在70摄氏度左右，并未超过限制。然而，客户也表示芯片表面温度较高，有可能恰好达到了85摄氏度。此点需要进一步排查。
进一步了解，在产品中芯片工作在120MHz。而当频率降低到60MHz时也一切正常。由此推测，此问题可能并非由温度导致。
分析原理图，发现Vcap引脚上电容接的过小，没有达到2.2uF。而产品手册中明确标明了这一点：
不论此问题是否是导致这个问题的原因，这点都必须加以改进，消除隐患。
进一步了解软件，发现客户的代码中没有对Flash等待周期进行设置。
查询手册可得知，只有当芯片工作于较低频率时，才可以不加等待周期。而具体这个频率是多少，和芯片的工作电压也有关系。
根据客户产品上芯片的实际工作条件，将Flash等待周期调整为4。
经过以上措施，高温试验时一切正常。
由此可以看出，对于一些表面很象的原因还需要仔细分析、耐心查找，才能找到真正的症结所在。
上一篇：STM32F7有别于其它相同内核MCU的几个特色
下一篇：关于在ARM MDK 中使用STM32F4xx 硬件浮点单元
DMF407电机控制专题教程_V1.1
【得捷电子Follow me第2期】robot_stm32f100驱动代码
嵌入式网络那些事：LwIP协议深度剖析与实战演练
小广播
热门活动
换一批
更多
设计资源 培训 开发板 精华推荐
- 【下载】LAT1439 关于STM32H745的MC SDK电机控制工程问题的解决办法
- 【下载】LAT1444 ADC采样中的阻抗匹配计算方法
- 【下载】LAT1446 TrustZone应用中串口通信的DMA传输失败问题
- 【下载】LAT1450 不断电情况下修改RDP选项并生效的解决方案
- 【下载】LAT1455 分辨OEMiROT的Bash与BAT脚本
- 【下载】LAT1457 Keil工程使用NEAI库的异常问题
最新单片机文章
- 纳芯微联合芯弦推出NS800RT系列实时控制MCU11月20日，纳芯微宣布联合芯弦半导体（ChipSine），推出NS800RT系列实时控制MCU。该系列MCU凭借更加高效、功能更强大的实时控制能力和丰富 ...
- 如何学习基于ARM平台的嵌入式系统一、嵌入式系统的概念着重理解"嵌入"的概念主要从三个方面上来理解 1、从硬件上,将基于CPU的处围器件,整合到CPU芯片内部,比如早期基于X86体 ...
- 有关 jffs2_scan_eraseblock 问题小结总结前面遇到的问题：1 有关类似：mtd->read(0x44 bytes from 0x68cf44) returned ECC errorjffs2_get_inode_nodes(): CRC failed ...
- SPCOMM控件在Delphi7.0串口通信中的应用摘要：利用Delphi开发工业控制系统软件成为越来越多的开发人员的选择，而串口通信是这个过程中必须解决的问题之一。本文在对几种常用串口通 ...
- Delphi环境下利用TComm组件实现串行通信摘要：利用Delphi开发工业控制系统软件成为越来越多的开发人员的选择，而串口通信是这个过程中必须解决的问题之一。本文在对几种常用串口通 ...
- 嵌入式开发实践的柱状图代码
- 嵌入式开发学习（10）<汇编写启动代码之设置栈、调用c语言、开关看门狗和开关iCache>
- 嵌入式开发学习（8）<一步一步点亮LED灯>
- 嵌入式开发学习（6）
更多精选电路图
更多热门文章
更多每日新闻
更多往期活动
11月24日历史上的今天
厂商技术中心
京公网安备 11010802033920号