STM32掉电检测+Flash存取

STM32有PVD的掉电检测功能，flash也可以直接存取；就动了用flash掉电保存参数的念头。 
1、搞定Flash擦、写函数。 
void  F_ErasePage(u32 Page_Address) 
{ 
 U32 tmp; 
 while((FLASH->SR&FLASH_FLAG_BSY)==FLASH_FLAG_BSY) 
 {  //PutCnstStr2Usart1("waiting\n"); } 
 FLASH->SR |= FLASH_FLAG_PGERR; 
 FLASH->CR |= CR_PER_Set; 
 FLASH->AR=Page_Address; 
 FLASH->CR |= CR_STRT_Set; 
  while((FLASH->SR&FLASH_FLAG_BSY)==FLASH_FLAG_BSY) 
 {  //PutCnstStr2Usart1("waiting\n"); } 
 FLASH->CR &= ~CR_PER_Set;//这个不能忘 
 } 
void FLASH_Program(u32 Address, u16 Data) 
{ 
 U32 tmp; 
Fstart: 
 if((FLASH->CR&CR_LOCK_Set)==CR_LOCK_Set)  //如果写被锁死 
 { 
  FLASH->KEYR = FLASH_KEY1; 
    FLASH->KEYR = FLASH_KEY2; 
    //PutCnstStr2Usart1("Unclock\n"); 
 } 
  while((FLASH->SR&FLASH_FLAG_BSY)==FLASH_FLAG_BSY) 
 { 
  //PutCnstStr2Usart1("waiting\n"); 
 } 
 FLASH->CR |= CR_PG_Set; 
 *(vu16*)Address = Data;  
 FLASH->CR &= ~CR_PG_Set; 
 if((FLASH->SR&FLASH_FLAG_PGERR)==FLASH_FLAG_PGERR) 
 {     
  //PutCnstStr2Usart1("No earase\n"); 
  F_ErasePage(Address); 
  goto Fstart;//竟然用了goto，咳咳^_^ 
 } 
} 
有了这两个函数基本就行了，反正一次要擦一个page，全拿过来保存参数就行了，比较可靠。 
U16 const flashdata[1024]__at(0x08001000);//因为flash一次能且只能写16bit，另外访问奇地址会出错。 
还有不要忘了#include ，绝对定位全靠它了。 
将要保存的参数放到一个结构里面，每次上电复位的时候加载，需要存储时写入flash 
2、搞定掉电检测 

void PVD_Init(void) 
{ 
 NVIC_InitTypeDef NVIC_InitStruct; 
 NVIC_InitStruct.NVIC_IRQChannel = PVD_IRQChannel; 
 NVIC_InitStruct.NVIC_IRQChannelPreemptionPriority = 0x00; 
 NVIC_InitStruct.NVIC_IRQChannelSubPriority = 0x00; 
 NVIC_InitStruct.NVIC_IRQChannelCmd = ENABLE; 
  RCC_APB1PeriphClockCmd( RCC_APB1Periph_TIM2 | RCC_APB1Periph_TIM3 | 
RCC_APB1Periph_TIM4 | RCC_APB1Periph_USART2|RCC_APB1Periph_PWR, ENABLE); //_PWR, ENABLE); // 这个是必需的 
PWR->CR |=  1<<4;//使能 
PWR->CR |=  0xE0;//2.9V检测  
 NVIC_Init(&NVIC_InitStruct);//借用一下库，允许中断 
 } 
寄存器设置有效，手动置相应中断标志可进入中断 
3、联合工作，失败 
void PVD_IRQHandler(void) 
{ 
 U16 i; 
 U32 tmp; 
 tmp = 0x08001000; 

 if((PWR->CSR & PWR_FLAG_PVDO)==PWR_FLAG_PVDO) //低于阈值（电压回升也会中断） 
 { 
  F_ErasePage(tmp); 
  for(i=0;i<2000;i++) 
  { 
   FLASH_Program(tmp,i); 
   tmp+=2; 
  } 
 } 

} 
分析：1、Vdda经过LC滤波可能会比Vdd掉的慢，而据说stm32会因此产生检测问题。2、电源回路电容量小，时间来不及。 
尝试：从ATX电源上拆了一个1000uF的电容，接上，无改善。 
思考：把掉电检测跟电源脚做在一起实在意义不大，一般情况下MCU的电源都是经过LDO稳压的，掉电检测使用专门的IO，可以用稳压器前的电压用于检测。 
由于目前还不能对电路板进行破坏性改造，手头也没有示波器，可调电源，暂时放弃对此做进一步的研究。 
套用某大人物的逻辑，这次尝试是部分失败