如何测试芯片二极管特性

如何测试芯片二极管特性?

1）测试目的：a. 检验芯片是否焊接正常；b. 检验芯片引脚是否损坏。

2）万用表设置：如下图，将万用表档位设置为二极管档，红表笔插入V/Ω孔，黑表笔插入公共COM孔。

3）测试原理

为了防止ESD损伤芯片，一般芯片内部各个引脚（除GND pin 或NC pin 外）都有对地二极管，简单的等效电路如下图所示：

利用二极管的正向导通性测试芯片各引脚二极管特性，假设二极管因为ESD 或高压被反向击穿造成损坏，那么芯片对应管脚一般表现为对地短路。

4）测试方法

将万用表红表笔接地，黑表笔连接芯片各个引脚，此时管子处于正向导通状态，万用表显示值即为芯片各个引脚的二极管特性。（注意，被测系统要断电处理）（若不能直接测试芯片引脚，可选择芯片引脚外部的测试点或者电阻、电容、电感、磁珠的对应点，需要靠近芯片处）

5）结果判断

a. 芯片本体正常或焊接正常，各个引脚（除GND pin 外）的测试结果应为0.3V-0.8V；

b. 测试结果若为OL，则芯片引脚为open 状态，芯片可能虚焊或引脚异常；

c. 测试结果若为0V，则芯片引脚对地短路，芯片可能焊接异常或引脚损坏；

以上三种测试结果供参考，若发现芯片pin 脚二极管特性异常，可与正常芯片进行对比。